計算機斷層掃描系統檢測主要用于檢測高密度和大尺寸物體，應用高能(néng)量X射線探，需有更高的系統分辨力等等。目前計算機斷層掃描系統技術的應用十分廣泛；在汽車等制造領域，可以用于零部件的缺陷檢測、質量控制和實效分析；在電子行業，可以用于芯片封裝多餘物檢測、封裝工藝改進(jìn)和逆向(xiàng)設計;在航空航天領域可用于産品質量控制、裝配工藝分析；總之，凡是需要觀測樣(yàng)品内部結構的場合都(dōu)能(néng)用到計算機斷層掃描系統，是一種(zhǒng)十分理想的無損檢測手段。
計算機斷層掃描系統常用的CT掃描模式有II代掃描、III代掃描。III代掃描具有更高的效率，但是容易由于校正方法不佳而導緻環狀僞影（所以減弱或消除環狀僞影是體現CT系統制造商技術水平的主要内容之一）；II代掃描效率大約是III代掃描的1/10—1/5，但其對(duì)大回轉直徑工件檢測有益。此外CT系統通常會(huì)具備數字射線檢測成(chéng)像（DR）功能(néng)。
計算機斷層掃描系統系統的核心性能(néng)指标包括：
1、空間分辨率：從CT圖像中能(néng)夠辨别最小結構細節的能(néng)力。
2、密度分辨率：從CT圖像中能(néng)夠分辨出最小密度差異的能(néng)力（通常跟特征區域大小結合在一起(qǐ)評定）。
空間分辨率與密度分辨率的關系。在輻射劑量一定的情況下，空間分辨率與密度分辨率是相互矛盾的兩(liǎng)個指标。提高空間分辨率會(huì)降低密度分辨率，反之亦然。
對(duì)于普通的計算機斷層掃描系統系統，其核心性能(néng)指标隻有空間分辨率和密度分辨率；而對(duì)于一台高精度測量計算機斷層掃描系統系統而言，除了上述兩(liǎng)個核心性能(néng)指标外，還(hái)有另外兩(liǎng)個核心性能(néng)指标：
2、幾何測量精度：在計算機斷層掃描系統圖像上測得某對(duì)象的幾何尺寸與該對(duì)象真實尺寸之間的絕對(duì)誤差。
2、密度測量精度：在計算機斷層掃描系統圖像上測得某對(duì)象的密度值與該對(duì)象真實密度值之間的相對(duì)誤差。
