立式光彈測試儀

産品簡介：

産品名稱：立式光彈測試儀

型   号：ANA6000P-V

應   用：測試 SiC晶圓、手機膜、顯示屏、石英玻璃等器件内部的應力雙折射/殘餘應力，以圖像形式直觀觀察被(bèi)測件的應力分布和應力集中情況。

安賽斯立式光彈測試儀：光彈系數測試儀(ANA6000P-V)是應用偏振光幹涉原理對(duì)應力作用下能(néng)産生人工雙折射材料做成(chéng)的力學(xué)構件模型進(jìn)行實驗應力測試的儀器，簡稱光彈儀。應用它可以測試 SiC晶圓、手機膜、顯示屏、石英玻璃等器件内部的應力雙折射/殘餘應力，以圖像形式直觀觀察被(bèi)測件的應力分布和應力集中情況。

立式光彈測試儀主要技術參數：

1.       測試面(miàn)積（即光源尺寸）

标準尺寸爲300 mm×300mm，其它尺寸可以定制，最大600mm×500mm；

2.       相機參數

2248*2048原始分辨率，輸出4幅1224*1024的偏振圖像。幀率36或79。

3.       應力雙折射量程

基本型: 量程爲工作波長(cháng)的1/4（以紅光爲例，量程即157.5nm）；

增強型：2296nm。需要采用藍、綠兩(liǎng)種(zhǒng)顔色的光源進(jìn)行測試，并進(jìn)行相位解包裹處理；

 3.  測試分辨率與精度

以 0.8mm 厚的鈣鈉玻璃爲例：應力測試的分辨率爲 0.2MPa：應力測試的精度：1.0MPa。

應力雙折射的測試分辨率：0.1nm, 精度：1.0nm；

産品特色：

與傳統/常規的光彈儀相比，本立式光彈測試儀具有如下特點：

1.     結構簡單

主要部件包括：偏振光源、傾斜平台（用于晶體試件測試）、濾光片轉輪、像素偏振相機、高配筆記本電腦（内存 16G 以上）及處理軟件，不含任何可旋轉的光學(xué)偏振器件。

2.     操作簡單，可以實現快速甚至實時(shí)測試

隻需一次拍照即可同時(shí)獲取試件的相位差場和主應力方向(xiàng)場，避免了傳統方法在定量測試時(shí)的複雜操作，且在平面(miàn)應力的條件下可以分離出各應力分量；

3.     靈敏度高且不受環境光的幹擾

測試靈敏度是傳統光彈法/設備的兩(liǎng)倍（物理靈敏度），且無論相位差多小，都(dōu)可以用最大的灰度梯度圖像表示（顯示靈敏度高）；由于采用不同偏振圖像之間的相減運算，使得測試幾乎不受環境光的幹擾。

4.     多種(zhǒng)測試波長(cháng)可選并快速切換

切換方式包括RGB 三色 LED 光源（中心波長(cháng)分别爲：625nm、525nm 和 465nm）的切換以白光光源下不同的窄帶濾光片的輪換。

5.     可以根據客戶要求定制産品

在某些特殊情況下，客戶需要用自己的相機和光源，我們可以根據需要對(duì)産品進(jìn)行定制，滿足客戶的需要。

安賽斯光彈儀工作原理

設：圓盤試件（直徑D, 厚度d）受對(duì)徑壓縮載荷 F 的作用，試件中心點O 的主應力分别是：

根據應力-光學(xué)定律，應力雙折射材料的主應力差與相位差（ϕ）的關系如下：

其中C 爲待求的光彈系數，λ 爲測試光的波長(cháng)。

將(jiāng)（1）（2）關聯起(qǐ)來，有：

通過(guò)光彈實驗确定圓形試件中心點的位相差ϕ，即可得到光彈系數。

實驗示意及應用範圍：

  立式光彈儀 ：利用應力雙折射性質，在工程上可以制成(chéng)各種(zhǒng)機械零件的透明塑料模型，然後(hòu)模拟零件的受力情況，觀察、分析偏振光幹涉的色彩和條紋分布，從而判斷零件内部的應力分布。

應力雙折射信息

圓盤徑向(xiàng)受壓實驗：

U型塊壓彎組合實驗：

光彈性方法直觀,能(néng)直接顯示應力集中區域，并準确給出應力集中部分的量值；它不但可以得到便捷應力而且能(néng)夠求的結構的内部應力。特别是這(zhè)一方法不受形狀和載荷的限制，可以對(duì)工程複雜結構進(jìn)行應力分析。

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